Основы стандартизации, метрологии и сертификации

Основы стандартизации, метрологии и сертификации

Архипов А.В., Берновский Ю.Н., Зекунов А.Г.
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Ano:
2017
Editora:
ЮНИТИ-ДАНА
Idioma:
russian
Páginas:
447
Arquivo:
PDF, 174.18 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
russian, 2017
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